Defectos que se inspeccionan
El sistema identifica burbujas, inclusiones, arañazos, huellas, residuos, suciedad y defectos de capa de baja emisividad.
ITECH · Control de calidad ↗
Escáner de vidrio aislante
Inspección automática del vidrio en línea para localizar defectos antes de completar la unidad aislante.
- Altura
- H2000 – H2500
- Espesor máximo
- 50 mm
- Velocidad del transportador
- Velocidad máxima: 60 m/min (a comprobar según distribución de la línea)
En tu trabajo
Revisar el vidrio antes de completar la unidad.
- Inspección automática en línea de vidrio, incluida la capa Low-E.
- Detección de defectos para apoyar el control de calidad en la fabricación de vidrio aislante.
Las reglas de inspección se ajustan al producto. La resolución de imagen no equivale por sí sola a un tamaño mínimo de defecto detectable.
Conoce cómo trabaja
La tecnología, al detalle.
Criterios configurables
La interfaz permite ajustar reglas y tamaños de defecto. Así se organiza la revisión según las exigencias del producto que se está fabricando.
Revisión junto al montaje
El sistema combina iluminación frontal, verificación posterior y una estación de pantalla próxima a la colocación del perfil separador.
Límites de la inspección
Los halos, los arañazos finos y las manchas de poco contraste no visibles a contraluz quedan fuera del alcance descrito. Estos límites deben considerarse al definir el control de calidad.
ITECH · Escáner de vidrio aislante
Datos técnicos.
- Altura
- H2000 – H2500
- Espesor máximo
- 50 mm
- Velocidad del transportador
- Velocidad máxima: 60 m/min (a comprobar según distribución de la línea)
- Resolución publicada de inspección
- 0,4 mm/pixel
- Altura de transporte del vidrio
- Estándar 600 mm (±50 mm) variable bajo pedido
La cifra 0,4 mm/píxel expresa la resolución de imagen, no garantiza la detección de cualquier defecto de 0,4 mm. La velocidad se comprueba con la distribución de la línea y los criterios de inspección.
Preparar tu equipo
Equipamiento y configuración.
Opcionales y configuración
- Criterios y tamaño de defecto configurables en la interfaz, dentro de los límites de detección del equipo.
Toda la información en esta ficha
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